3.2. Ионно-полевая микроскопия
Ионно-полевая микроскопия даёт разрешение, приближающееся к межатомным
расстоя¬ниям. В ионно-полевом микроскопе на заострённую метал¬лическую иглу
находящуюся в камере с высоким вакуумом, подается положительный потенциал.
Электрическое поле и его градиент вбли¬зи острия весьма велики, так что
остаточные молекулы газа при приближении к нему ионизируются, передавая
электроны игле, а сами заряжаясь положитель¬но. Эти газообразные катионы
отталкиваются иглой и летят от нее вдоль линий электростатического поля на
расположенную вблизи фотопластинку, на которой при соударениях создаются
засвеченные точки. Каждая точка на пластинке соот¬ветствует атому на кончике
зонда, так что распределение точек на фотопластин¬ке представляет собой сильно
увеличенное изображение распределения атомов на вершине иглы. На рис. 3.14
показан ионно-полевой микроснимок вольфрамо¬вой иглы, на рис. 3.15 -
стереографическая проекция кубического кристалла с ориентацией, соответствующей
микроснимку рис. 3.14. "Международные таб¬лицы кристаллографии" под редакцией Т.
Хана (Хан 1996) содержат стереографи¬ческие проекции для разных точечных групп и
клас сов кристаллов.